Deskripsi produk

Mode Pengukuran

• AFM Kontak di udara;

• AFM Kontak di cairan (opsional);

• AFM Semikontak di udara;

• AFM Semikontak di cairan (opsional);

• AFM Non-kontak Sebenarnya (True Non-contact AFM);

• Mikroskopi Gaya Dinamis (Dynamic Force Microscopy / DFM, FM-AFM);

• Mikroskopi Gaya Disipasi (Dissipation Force Microscopy);

• Mode Top;

• Pencitraan Fase (Phase Imaging);

• Mikroskopi Gaya Lateral (Lateral Force Microscopy / LFM);

• Modulasi Gaya (Force Modulation);

• AFM Konduktif (opsional);

• Mode I-Top (opsional);

• Mikroskopi Gaya Magnetik (Magnetic Force Microscopy / MFM);

• Probe Kelvin (Mikroskopi Potensial Permukaan);

• Probe Kelvin sekali jalan (Single-pass Kelvin Probe);

• Mikroskopi Kapasitansi (SCM);

• Mikroskopi Gaya Listrik (Electric Force Microscopy / EFM);

• MFM/EFM sekali jalan (“pemindaian bidang” / “Plane scan”);

• Pengukuran kurva gaya;

• Mikroskopi Gaya Respon Piezo (PFM);

• Mode PFM-Top;

• Nanolitografi;

• Nanomanipulasi;

• STM (opsional);

• Pemetaan Fotokurent (opsional);

• Pengukuran karakteristik volt-ampere (opsional).

Mode Pengukuran dalam Cairan dengan Kepala AFM HE001 dan Sel Cairan

• AFM Kontak;

• AFM Semikontak;

• Mode Top;

• Pencitraan Fase;

• Mikroskopi Gaya Lateral (LFM);

• Modulasi Gaya;

• Pengukuran kurva gaya;

• Nanolitografi;

• Nanomanipulasi.

Pemindai dan Basis

• Rentang pemindaian sampel: 100 µm x 100 µm x 20 µm (±10%)

• Jenis pemindaian berdasarkan sampel: non-linieritas XY 0,05%; non-linieritas Z 0,05%

• Noise:

  • 0,1 nm RMS pada dimensi XY dalam bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi aktif;

  • 0,02 nm RMS pada dimensi XY dalam bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi nonaktif;

  • < 0,1 nm RMS sensor kapasitansi Z dalam bandwidth 1000 Hz

• Frekuensi resonansi: XY: 7 kHz (tanpa beban); Z: 15 kHz (tanpa beban)

Basis

• Posisi sampel manual: jangkauan 25x25 mm, resolusi posisi 1 µm;

• Posisi kepala ukur SPM bermotor: 1,6x1,6 mm, resolusi posisi 1 µm;

• Pendekatan bermotor: 1,3 mm;

• Dudukan sampel untuk slide standar dan kaca penutup;

• Dudukan sampel opsional: Ukuran sampel maksimum: 50,8x50,8 mm, tinggi 5 mm, dengan kemampuan memilih area ukur 25x25 mm di salah satu kuadran dari area 50,8x50,8 mm atau di tengah sampel.

Kepala AFM HE001

• Panjang gelombang laser: 1300 nm;

• Tidak ada pengaruh laser pada sampel biologis;

• Tidak ada pengaruh laser pada pengukuran fotovoltaik;

• Noise sistem perekaman: <0,03 nm

• Sepenuhnya bermotor: 4 motor langkah untuk penyelarasan otomatis cantilever dan fotodioda

• Akses bebas ke probe untuk manipulasi dan probe eksternal tambahan;

• Akses optik simultan dari atas dan samping: lensa objektif planapochromat 10x, NA=0,28 dan 20x, NA=0,42 masing-masing.

Sel Cairan (Opsional)

• Posisi sampel manual: jangkauan 15x15 mm, resolusi posisi 1 µm;

• Dudukan untuk cawan Petri diameter 35 mm;

• Volume cairan: 1,5–2,5 ml;

• Alur untuk pertukaran cairan: dua tabung.

Unit AFM Konduktif (Opsional)

• Rentang arus: 100 fA ÷ 10 µA;

• 3 rentang arus (1 nA, 100 nA, dan 10 µA) dapat diganti melalui program;

• Rentang tegangan: -10 ÷ +7 V;

• Noise arus RMS: kurang dari 60 fA untuk rentang 1 nA.

Kompatibilitas dengan Mikroskop Optik Inversi

• Tidak ada interferensi dengan pencitraan optik karena laser inframerah;

• Dapat dipasang pada:

  • Nikon Ti-E, Ti-U, Ti-S, TE2000;

  • Olympus IX-71, IX-81;

  • Teknik kontras fase, DIC, dan fluoresen dengan kondensor optik asli;

• Dapat ditingkatkan ke platform TRIOS untuk operasi spektroskopi dan TERS.

Mikroskop Optik untuk Operasi Mandiri (Opsional)

• Apertur numerik: hingga 0,1;

• Perbesaran di monitor 19" dengan CCD 1/3": dari 85x hingga 1050x;

• Bidang pandang horizontal: dari 4,5 hingga 0,37 mm;

• Zoom manual dengan klik: 12,5x;

• Dudukan dan unit fokus kasar/halus;

• Kemampuan menggunakan objektif planapochromat: 10x, NA=0,28; 20x, NA=0,42; dan 100x, NA=0,7 (tergantung pada kepala AFM).

Perangkat Lunak

• Penyelarasan otomatis sistem perekaman;

• Konfigurasi dan pengaturan otomatis untuk teknik pengukuran standar;

• Penyesuaian frekuensi resonansi cantilever secara otomatis;

• Kemampuan bekerja dengan kurva gaya;

• Bahasa makro Lua untuk memprogram fungsi pengguna, skrip, dan widget;

• Kemampuan memprogram pengendali dengan bahasa makro DSP secara real-time tanpa perlu memuat ulang perangkat lunak kontrol;

• Kemampuan memproses gambar dalam ruang koordinat, termasuk membuat penampang, fitting, dan pemulusan polinomial hingga derajat 8;

• Pemrosesan FFT dengan kemampuan untuk memproses gambar dalam ruang frekuensi, termasuk filtrasi dan analisis;

• Nanolitografi dan nanomanipulasi;

• Pemrosesan gambar hingga ukuran 5000x5000 piksel.

‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id