Deskripsi produk

Mode Pengukuran

• Contact AFM di udara

• Contact AFM dalam cairan (opsional)

• Semicontact AFM di udara

• Semicontact AFM dalam cairan (opsional)

• True Non-contact AFM

• Dynamic Force Microscopy (DFM, FM-AFM)

• Dissipation Force Microscopy

• Top Mode

• Phase Imaging

• Lateral Force Microscopy (LFM)

• Force Modulation

• Conductive AFM (opsional)

• I-Top mode (opsional)

• Magnetic Force Microscopy (MFM)

• Kelvin Probe (Surface Potential Microscopy)

• Single-pass Kelvin Probe

• Capacitance Microscopy (SCM)

• Electric Force Microscopy (EFM)

• Single-pass MFM/EFM (“Plane scan”)

• Force curve measurements

• Piezo Response Force Microscopy (PFM)

• PFM-Top mode

• Nanolithography

• Nanomanipulation

• STM (opsional)

• Photocurrent Mapping (opsional)

• Volt-ampere characteristic measurements (opsional)

Mode Pengukuran dalam Cairan dengan AFM Head HE001 dan Cell Cair

• Contact AFM

• Semicontact AFM

• TopMode

• Phase Imaging

• Lateral Force Microscopy (LFM)

• Force Modulation

• Force curve measurements

• Nanolithography

• Nanomanipulation

Scanner dan Base

• Rentang pemindaian sampel: 100 µm x 100 µm x 20 µm (±10%)

• Tipe pemindaian berdasarkan sampel: Non-linearitas XY 0.05%; Non-linearitas Z 0.05%

• Noise:

  • < 0.1 nm RMS di dimensi XY dalam bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi aktif

  • < 0.02 nm RMS di dimensi XY dalam bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi non-aktif

  • < 0.1 nm RMS di dimensi Z dalam bandwidth 1000 Hz dengan sensor kapasitansi aktif

• Frekuensi resonansi:

  • XY: 7 kHz (bebas beban)

  • Z: 15 kHz (bebas beban)

Base

• Posisi sampel manual: Rentang 25x25mm, resolusi posisi 1µm

• Posisi kepala pengukuran SPM motorisasi: 1.6x1.6mm, resolusi posisi 1µm

• Pendekatan motorisasi: 1.3 mm

• Holder sampel untuk slide standar dan kaca penutup

• Holder sampel opsional:

  • Ukuran sampel maksimum: 50.8x50.8 mm, tinggi 5 mm

  • Kemampuan untuk memilih area pengukuran 25x25mm di kuadran mana pun dari area 50.8x50.8 mm atau di pusat sampel

AFM Head HE001

• Panjang gelombang laser: 1300 nm

• Tidak ada pengaruh dari laser registrasi pada sampel biologis

• Tidak ada pengaruh dari laser registrasi pada pengukuran fotovoltaik

• Noise sistem registrasi: < 0.03 nm

• Motorisasi penuh: 4 motor stepper untuk penyelarasan otomatis cantilever dan fotodiode

• Akses bebas ke probe untuk manipulasi eksternal dan probe tambahan

• Akses optik simultan dari atas dan samping: Objektif planapochromat 10x, NA=0.28 dan 20x, NA=0.42

Cell Cair (opsional)

• Posisi sampel manual: Rentang 15x15mm, resolusi posisi 1µm

• Holder untuk petri dish dia. 35mm

• Volume cairan: 1.5-2.5 ml

• Aliran cairan untuk pertukaran: Dua tabung

Unit Conductive AFM (opsional)

• Rentang arus: 100 fA ÷ 10 µA

• 3 rentang arus (1nA, 100 nA, dan 10 µA) dapat dipilih melalui perangkat lunak

• Rentang tegangan: -10 ÷ +7V

• Noise arus RMS: kurang dari 60 fA untuk rentang 1nA

Kompatibilitas dengan Mikroskop Optik Inverted

• Tidak ada interferensi dengan pencitraan optik karena laser inframerah

• Kemampuan untuk dipasang pada:

  • Nikon Ti-E, Ti-U, Ti-S, TE2000

  • Olympus IX-71, IX-81

• Teknik kontras fase, DIC, dan fluorescent dengan kondensor optik asli

• Dapat di-upgrade ke platform TRIOS untuk operasi spektroskopik dan TERS

Mikroskop Optik untuk Operasi Mandiri (opsional)

• Numerical aperture: hingga 0.1

• Perbesaran pada monitor 19" dengan CCD 1/3": dari 85x hingga 1050x

• Bidang pandang horizontal: dari 4.5 hingga 0.37 mm

• Zoom detent manual: 12.5x

• Unit stand dan fokus kasar/halus

• Kemampuan untuk menggunakan objektif planapochromat: 10x, NA=0.28, 20x, NA=0.42, dan 100x, NA=0.7 (tergantung pada kepala AFM)

Software

• Penyelarasan otomatis dari sistem registrasi

• Konfigurasi otomatis dan pengaturan preset untuk teknik pengukuran standar

• Penyesuaian otomatis frekuensi resonansi cantilever

• Kemampuan untuk bekerja dengan kurva gaya

• Bahasa makro Lua untuk pemrograman fungsi pengguna, skrip, dan widget

• Kemampuan untuk memprogram pengontrol dengan bahasa makro DSP secara real-time tanpa memuat ulang perangkat lunak pengontrol

• Kemampuan untuk memproses gambar dalam ruang koordinat termasuk membuat penampang, fitting, dan pemrosesan polinomial hingga derajat 8

• Pemrosesan FFT dengan kemampuan untuk memproses gambar dalam ruang frekuensi termasuk filtrasi dan analisis

• Nanolithography dan nanomanipulation

• Pemrosesan hingga gambar 5000x5000 piksel

‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id