Deskripsi produk

Mode Pengukuran (Measuring Modes)

• AFM Kontak di udara

• AFM Kontak dalam cairan (opsional)

• AFM Semikontak di udara

• AFM Semikontak dalam cairan (opsional)

• AFM Non-kontak sejati (True Non-contact AFM)

• Mikroskopi Gaya Dinamis (DFM, FM-AFM)

• Mikroskopi Gaya Disipasi

• Mode Top

• Pencitraan Fase

• Mikroskopi Gaya Lateral (LFM)

• Modulasi Gaya

• AFM Konduktif (opsional)

• Mode I-Top (opsional)

• Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM)

• Probe Kelvin (Mikroskopi Potensial Permukaan)

• Probe Kelvin sekali lintas (Single-pass)

• Mikroskopi Kapasitansi (SCM)

• Mikroskopi Gaya Listrik (EFM)

• MFM/EFM sekali lintas (“pemindaian bidang”)

• Pengukuran kurva gaya

• Mikroskopi Respons Gaya Piezo (PFM)

• Mode PFM-Top

• Nanolitografi

• Nanomanipulasi

• STM (opsional)

• Pemetaan Arus Foto (opsional)

• Pengukuran karakteristik volt-ampere (opsional)

• Mikroskopi Gaya Geser dengan tuning fork (ShFM)

• Mikroskopi Gaya Normal dengan tuning fork

SmartSPM Scanner dan Basis

• Rentang pemindaian sampel: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%)

• Non-linearitas pemindaian: XY 0,05%; Z 0,05%

• Derau (Noise):

  • XY: < 0,1 nm RMS (200 Hz, sensor kapasitansi aktif)

  • XY: < 0,02 nm RMS (100 Hz, sensor kapasitansi nonaktif)

  • Z: < 0,04 nm RMS (1000 Hz)

• Frekuensi resonansi:

  • XY: 7 kHz (tanpa beban)

  • Z: 15 kHz (tanpa beban)

• Gerakan X, Y, Z: Kontrol loop tertutup digital; pendekatan Z bermotor hingga 18 mm

• Ukuran sampel: Maks. 40 x 50 mm, ketebalan 15 mm

• Pemposisian sampel: Jangkauan 5 x 5 mm; Resolusi 1 µm

Kepala AFM

HE001

• Laser: 1300 nm (tidak memengaruhi sampel biologis/fotovoltaik)

• Derau sistem registrasi: < 0,03 nm

• Motorisasi penuh: 4 motor stepper untuk penyelarasan otomatis

• Akses bebas ke probe untuk manipulasi eksternal

• Akses optik atas & samping: objektif planapochromat 10x (NA=0.28) & 20x (NA=0.42)

HE002 (Catatan: Tidak mendukung AFM cairan kontak/semikontak)

• Laser: 1300 nm (tidak memengaruhi sampel biologis/fotovoltaik)

• Derau sistem registrasi: < 0,1 nm

• Motorisasi penuh: 4 motor stepper

• Akses optik simultan atas & samping:

  • Samping hingga 100x, NA = 0.7

  • Atas 10x, NA = 0.28

Mikroskop Optik

• Apertur numerik: hingga 0,1

• Pembesaran (di monitor 19” dengan CCD 1/3”): 85x – 1050x

• Bidang pandang horizontal: 4,5 – 0,37 mm

• Zoom manual 12.5x (opsional motorisasi)

• Fokus kasar & halus manual

• Dukungan untuk objektif 10x, 20x, dan 100x (tergantung kepala AFM)

Sel Cairan (opsional)

• Ukuran sampel: diameter 25 mm, ketebalan 2 mm

• Jangkauan pemposisian: 5 x 5 mm; resolusi 1 µm

• Ukuran sel: 40 x 40 x 12 mm

• Volume cairan: 3 ml

• Dapat ditukar cairan, pembersihan dengan autoklaf & ultrasonik

Sel Cairan dengan Kontrol Suhu (opsional)

• Pemanasan: hingga 60°C

• Pendinginan: hingga 5°C

• Resolusi pemposisian: lebih baik dari 1,5 µm

• Spesifikasi lain sama dengan sel cair biasa

Unit AFM Konduktif (opsional)

• Rentang arus: 100 fA – 10 µA

• 3 rentang arus (1 nA, 100 nA, 10 µA) dapat diatur lewat program

• Rentang tegangan: -10V sampai +7V

• Derau arus RMS: < 60 fA pada rentang 1 nA

• Peralihan konduktif ↔ mode Kelvin dapat dilakukan lewat program

Holder Tuning Fork Gaya Geser & Normal (opsional)

• Kompatibel dengan tuning fork 32.768 kHz

• PCB untuk gaya geser & gaya normal

• Eksitasi piezokeramik

• Preamplifier terintegrasi, derau rendah

• Kompatibel dengan objektif samping 100x (TERS/TEPL) dan atas 10x

Unit Nanoindenter (opsional)

• Beban maksimum: 5 mN

• Derau beban: < 100 nN

• Derau perpindahan: < 0,2 nm

Kompatibilitas dengan Sistem Optik

• Tidak mengganggu pencitraan optik (karena laser IR)

• Dapat ditingkatkan ke OmegaScope untuk spektroskopi, fotovoltaik, SNOM, TERS & TEPL

Penutup Pelindung dengan Dudukan untuk Mikroskop Optik (opsional)

• Isolasi akustik: 30 dB

• Pelindung elektrostatik

• Saluran masuk & keluar untuk kontrol lingkungan

• Fokus menggunakan skrup mikrometer (±6,5 mm), sensitivitas <1 µm

• Lift layanan cepat: jangkauan hingga 98 mm

• Pemposisian XY: ±2 mm

• Fokus halus untuk objektif 100x:

  • Fokus halus: 0,2 mm

  • Pembacaan mikrometer: 0,5 µm

  • Sensitivitas fokus: lebih baik dari 0,1 µm

Sistem Kontrol Kelembapan (opsional)

• Rentang kelembapan relatif: 10 – 85%

• Stabilitas kelembapan: ±1%

Perangkat Lunak

• Penyelarasan otomatis sistem registrasi

• Pengaturan otomatis untuk teknik pengukuran standar

• Penyesuaian otomatis frekuensi resonansi cantilever

• Mendukung pengukuran kurva gaya

• Bahasa makro Lua untuk skrip dan widget pengguna

• Pemrograman kontroler real-time dengan bahasa DSP (tanpa restart software)

• Pengolahan gambar dalam ruang koordinat: cross-section, fitting, subtracting permukaan polinomial hingga derajat ke-12

• Pemrosesan FFT untuk analisis dalam domain frekuensi

• Fitur nanolitografi & nanomanipulasi

• Pengolahan gambar hingga resolusi 5000x5000 piksel

‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id