Deskripsi produk

SmartSPM Scanner dan Basis

Rentang pemindaian sampel: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%)

Tipe pemindaian berdasarkan sampel: Non-linearitas XY 0,05 %; Non-linearitas Z 0,05 %

Derau (Noise):

• 0,1 nm RMS pada dimensi XY dalam bandwidth 200 Hz dengan sensor kapasitansi aktif

• 0,02 nm RMS pada dimensi XY dalam bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi non-aktif

• < 0,04 nm RMS pada sensor kapasitansi Z dalam bandwidth 1000 Hz

Frekuensi resonansi:

• XY: 7 kHz (tanpa beban)

• Z: 15 kHz (tanpa beban)

Gerakan X, Y, Z:
Kontrol loop tertutup digital untuk sumbu X, Y, dan Z; Pendekatan Z bermotor dengan jangkauan 18 mm

Ukuran sampel: Maksimal 40 x 50 mm, ketebalan 15 mm

Pemposisian sampel: Pemposisian bermotor dengan jangkauan 5 x 5 mm

Resolusi pemposisian: 1 µm

Kepala AFM

Panjang gelombang laser: 1300 nm, tidak mengganggu detektor spektroskopi

Derau sistem registrasi: Hingga < 0,1 nm

Penyelarasan: Penyelarasan otomatis penuh antara cantilever dan fotodioda

Akses probe: Akses bebas ke probe untuk manipulasi eksternal tambahan dan probe lain

Mode Pengukuran SPM

• AFM Kontak di udara / (opsional dalam cairan)

• AFM Semikontak di udara / (opsional dalam cairan)

• AFM Non-kontak

• Pencitraan fase

• Mikroskopi Gaya Lateral (LFM)

• Modulasi gaya

• AFM Konduktif (opsional)

• Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM)

• Probe Kelvin (Mikroskopi Potensial Permukaan, SKM, KPFM)

• Mikroskopi Kapasitansi dan Gaya Listrik (EFM)

• Pengukuran kurva gaya

• Mikroskopi Gaya Respons Piezo (PFM)

• Nanolitografi

• Nanomanipulasi

• STM (opsional)

• Pemetaan Arus Foto (opsional)

• Pengukuran karakteristik volt-ampere (opsional)

Mode Spektroskopi

• Pencitraan dan spektroskopi Raman konfokal, fluoresensi, dan fotoluminesensi

• Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) dalam mode AFM, STM, dan gaya geser

• Tip-Enhanced Photoluminescence (TEPL)

• Mikroskopi dan Spektroskopi Optik Jarak Dekat (NSOM/SNOM)

Unit AFM Konduktif (opsional)

Rentang arus: 100 fA ÷ 10 µA; 3 rentang arus (1 nA, 100 nA, dan 10 µA) yang dapat diatur melalui perangkat lunak

Akses Optik

• Kemampuan menggunakan secara bersamaan objektif apokromatik dari atas dan samping: Hingga 100x, NA = 0,7 dari atas atau samping; Hingga 20x dan 100x secara bersamaan

• Pemindai objektif piezo loop tertutup untuk penyelarasan laser spektroskopik jangka panjang yang sangat stabil: Jangkauan 20 µm x 20 µm x 15 µm; Resolusi: 1 nm

Spektrometer

Tipe: Spektrometer mikro resolusi tinggi LabRAM Odyssey yang sepenuhnya otomatis, berfungsi juga sebagai mikroskop mikro-Raman mandiri

Rentang panjang gelombang: 50 cm⁻¹ hingga 4000 cm⁻¹ atau hingga 10 cm⁻¹ dengan opsi filter Ultra Low Frequency (ULF)

Grating: Pilihan grating dari 150 g/mm hingga 3600 g/mm; 2 grating pada turret yang dikendalikan komputer, dapat diganti dengan mudah secara kinematik

Desain optik: Spektrograf akromatik dan optik kopling akromatik

Otomatisasi: Pengoperasian sepenuhnya termotorisasi dan dikendalikan perangkat lunak

Deteksi

Rentang penuh detektor CCD, EMCCD, dan detektor Inframerah: array InGaAs, saluran tunggal InGaAs yang diperluas, InSb, CdTe, dan lainnya

Sumber Laser

Panjang gelombang: Rentang penuh dari DUV (229 nm) hingga IR (hingga 1064 nm)

Panjang gelombang khas: 532 nm, 638 nm, 785 nm

Otomatisasi: Pengalihan laser dan filter otomatis sepenuhnya untuk hingga 3 laser simultan; opsi pemilihan polarisasi laser dan analisis spektral untuk semua panjang gelombang

Perangkat Lunak

Paket perangkat lunak terintegrasi yang mencakup:

• Kontrol penuh untuk SPM, spektrometer, dan akuisisi data

• Suite analisis dan pemrosesan data spektroskopi dan SPM, termasuk:

  • Fitting spektral

  • Dekonvolusi

  • Penyaringan

• Modul opsional termasuk:

  • Analisis univariat dan multivariat (PCA, MCR, HCA, DCA)

  • Deteksi partikel

  • Fitur pencarian spektrum

‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id