021 -2216 3350
info@bapj.co.id

LabRAM Soleil Nano LabRAM Soleil Nano product image Real-time and Direct Correlative Nanoscopy

Update Terakhir
Negara Asal
Switzerland
Pembelian minimum
1
Harga
Nego
Kategori
Minta Penawaran
Sharing:

Deskripsi produk

SmartSPM Scanner and Base

  • Range Pemindaian Sampel: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

  • Tipe Pemindaian per Sampel: Non-linearitas XY 0.05 %; Non-linearitas Z 0.05 %

  • Noise: 0.1 nm RMS di dimensi XY pada bandwidth 200 Hz dengan sensor kapasitansi aktif; 0.02 nm RMS di dimensi XY pada bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi mati; < 0.04 nm RMS Z sensor kapasitansi pada bandwidth 1000 Hz

  • Frekuensi Resonansi: XY: 7 kHz (tanpa beban); Z: 15 kHz (tanpa beban)

  • Gerakan X, Y, Z: Kontrol loop tertutup digital untuk sumbu X, Y, Z; Rentang pendekatan Z motorisasi 18 mm

  • Ukuran Sampel: Maksimal 40 x 50 mm, ketebalan 15 mm

  • Posisi Sampel: Rentang posisi sampel motorisasi 5 x 5 mm

  • Resolusi Posisi: 1 µm


AFM Head

  • Panjang Gelombang Laser: 1300 nm, tidak mengganggu detektor spektroskopi

  • Noise Sistem Registrasi: Turun hingga < 0.1 nm

  • Penyelarasan: Penyelarasan otomatis penuh untuk cantilever dan fotodioda

  • Akses Probe: Akses bebas ke probe untuk manipulasi eksternal dan probe tambahan


Mode Pengukuran SPM

  • AFM Kontak di udara/(cairan opsional); AFM Semicontact di udara/(cairan opsional); AFM Non-kontak; Pencitraan Fase; Mikroskopi Gaya Lateral (LFM); Modulasi Gaya; AFM Konduktif (opsional); Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM); Probe Kelvin (Mikroskopi Potensial Permukaan, SKM, KPFM); Mikroskopi Kapasitansi dan Gaya Listrik (EFM); Pengukuran Kurva Gaya; Mikroskopi Respon Piezo (PFM); Nanolithography; Nanomanipulasi; STM (opsional); Pemetaan Fotokurangnya (opsional); Pengukuran karakteristik volt-ampere (opsional)


Mode Spektroskopi

  • Confocal Raman, Fluorescence, dan Photoluminescence pencitraan dan spektroskopi

  • Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) & Tip-Enhanced Photoluminescence (TEPL) dalam mode AFM, STM, dan gaya geser

  • Near-field Optical Scanning Microscopy and Spectroscopy (NSOM/SNOM)


Opsi

  • Unit Konduktif: Rentang arus 100 fA ÷ 10 µA / 3 rentang arus (1 nA, 100 nA, dan 10 µA) dapat dipilih dari perangkat lunak

  • Sel Cair / Sel Elektro-Kimia

  • Kontrol Suhu untuk Sel Cair: Pemanasan hingga 60°C

  • Kamar Lingkungan

  • Sistem Kontrol Kelembapan: Rentang kelembapan relatif 10-85% / Stabilitas kelembapan relatif ±1%

  • Modul Pemanas Pendingin: Dari -50°C hingga +100°C

  • Modul Pemanas: Pemanasan hingga 300°C / Stabilitas suhu 0.1°C, atau pemanasan hingga 150°C / Stabilitas suhu 0.01°C

  • Holder Penyetelan Gaya Shear dan Gaya Normal gabungan

  • Holder STM

  • Modul Akses Sinyal


Akses Optik

  • Kemampuan untuk menggunakan secara bersamaan objektif apokromat atas dan samping: Hingga 100x, NA = 0.7 dari atas atau samping; Hingga 20x dan 100x secara simultan

  • Pemindai objektif piezo loop tertutup untuk penyelarasan laser spektroskopik yang sangat stabil: Rentang 20 µm x 20 µm x 15 µm; Resolusi: 1 nm


Spektrometer

  • Rentang Panjang Gelombang: UV-VIS-NIR; Sistem cermin achromatic throughput tinggi broadband, dioptimalkan dari 300 nm hingga 1600 nm tanpa perlu mengganti optik.

  • Laser Terintegrasi: Hingga 4 laser solid-state, panjang gelombang NUV hingga NIR tersedia.

  • Laser Eksternal: Tak terbatas, biasanya untuk laser gas besar dan ultrafast.

  • Kecepatan Pemindaian Spektrometer: Hingga 400 nm/s, dengan grating 600g/mm, dipasang pada turret 4-grating standar.

  • Jumlah Grating: Tidak terbatas; Turret motorisasi 4-grating dapat dipertukarkan.

  • Pencitraan Cepat: <1ms/spektrum, SWIFT, SWIFT XS EMCCD, SWIFT repetitif, SWIFT eXtended Range, dan SmartSampling untuk pencitraan ultracepat.

  • Batasan Standar Wavenumber: 30 cm-1, dengan filter tepi untuk panjang gelombang 532, 638, dan 785 nm, penolakan injeksi, transmisi >99%.


Perangkat Lunak

  • Paket perangkat lunak terintegrasi yang mencakup kontrol SPM, spektrometer, dan akuisisi data, suite analisis dan pemrosesan data spektroskopik dan SPM, termasuk pemrograman spektral, dekonvolusi dan pemfilteran, modul opsional termasuk analisis univariat dan multivariat suite (PCA, MCR, HCA, DCA), deteksi partikel dan fungsionalitas pencarian spektral.

 

 




Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id

Produk Terkait

                                                                                      PT. Bopana Arga Prima Jaya

Office

Jl. Jupiter VI, Perum Bintang Metropol Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122 , Bekasi
Bekasi , Indonesia

Contact
021 -2216 3350
info@bapj.co.id
Share
apartmentenvelopebookmarkcarttagphone-handsetearthhistorymagnifiercross
× How can I help you?