Rentang pemindaian sampel: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10%)
Tipe pemindaian berdasarkan sampel: Non-linearitas XY 0,05 %; Non-linearitas Z 0,05 %
Noise (derau):
0,1 nm RMS pada dimensi XY dalam bandwidth 200 Hz dengan sensor kapasitansi aktif
0,02 nm RMS pada dimensi XY dalam bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi non-aktif
< 0,04 nm RMS pada sensor kapasitansi Z dalam bandwidth 1000 Hz
Frekuensi resonansi:
XY: 7 kHz (tanpa beban)
Z: 15 kHz (tanpa beban)
Gerakan X, Y, Z:
Kontrol loop tertutup digital untuk sumbu X, Y, dan Z; Pendekatan motorik Z dengan jangkauan 18 mm
Ukuran sampel: Maksimum 40 x 50 mm, ketebalan 15 mm
Posisi sampel:
Pemposisian sampel bermotor dengan jangkauan 5 x 5 mm
Resolusi pemposisian: 1 µm
Panjang gelombang laser: 1300 nm, tidak mengganggu detektor spektroskopi
Noise sistem registrasi: Hingga < 0,1 nm
Penyelarasan: Penyelarasan otomatis penuh antara cantilever dan fotodioda
Akses probe: Akses bebas ke probe untuk manipulator eksternal tambahan dan probe lainnya
Contact AFM di udara/(opsional dalam cairan)
Semicontact AFM di udara/(opsional dalam cairan)
Non-contact AFM
Pencitraan Fase
Mikroskopi Gaya Lateral (LFM)
Modulasi Gaya
Conductive AFM (opsional)
Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM)
Kelvin Probe (Mikroskopi Potensial Permukaan, SKM, KPFM)
Mikroskopi Kapasitansi dan Gaya Listrik (EFM)
Pengukuran kurva gaya
Mikroskopi Gaya Respon Piezo (PFM)
Nanolitografi
Nanomanipulasi
STM (opsional)
Pemetaan Fotokurang (opsional)
Pengukuran karakteristik volt-ampere (opsional)
Citra dan spektroskopi Raman Konfokal, Fluoresensi, dan Fotoluminesensi
Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) & Tip-Enhanced Photoluminescence (TEPL) dalam mode AFM, STM, dan gaya geser
Mikroskopi dan Spektroskopi Optik Jarak Dekat (NSOM/SNOM)
Unit Konduktif: Rentang arus 100fA ÷ 10uA / 3 rentang arus (1nA, 100nA, dan 10 µA) yang dapat diubah melalui perangkat lunak
Sel Cair / Sel Elektrokimia
Pengendali suhu untuk sel cair: Pemanasan hingga 60°C
Ruang Lingkungan
Sistem pengontrol kelembaban: Rentang kelembaban relatif 10–85% / Stabilitas kelembaban relatif ±1%
Modul Pemanas-Pendingin: Dari -50°C hingga +100°C
Modul Pemanas: Pemanasan hingga 300°C / Stabilitas suhu 0,1°C, atau pemanasan hingga 150°C / Stabilitas suhu 0,01°C
Dudukan tuning fork gaya geser dan gaya normal gabungan
Dudukan STM
Modul Akses Sinyal
Kemampuan menggunakan objektif apokromatik atas dan samping secara bersamaan: Hingga 100x, NA = 0,7 dari atas atau samping; Hingga 20x dan 100x secara bersamaan
Pemindai objektif piezo loop tertutup untuk penyelarasan laser spektroskopik jangka panjang yang sangat stabil: Jangkauan 20 µm x 20 µm x 15 µm; Resolusi: 1 nm
Rentang panjang gelombang: UV-VIS-NIR; Sistem cermin akromatik throughput tinggi, dioptimalkan dari 300 nm hingga 1600 nm tanpa mengganti optik
Laser bawaan: Hingga 4 laser solid-state, panjang gelombang NUV hingga NIR tersedia
Laser eksternal: Tidak terbatas, untuk laser gas besar dan ultracepat
Kecepatan pemindaian spektrometer: Hingga 400 nm/s, dengan kisi 600g/mm, dipasang pada turret 4-kisi standar
Jumlah kisi: Tidak terbatas; turret bermotor 4 kisi yang dapat ditukar
Pencitraan cepat: <1ms/spektrum SWIFT, SWIFT XS EMCCD, SWIFT repetitif, SWIFT Rentang Diperluas dan SmartSampling untuk pencitraan ultra cepat
Batas wavenumber standar: 30 cm⁻¹, dengan filter edge untuk panjang gelombang 532, 638, dan 785 nm, penolakan injeksi, transmisi >99%
Paket perangkat lunak terintegrasi termasuk kontrol penuh untuk SPM, spektrometer, dan akuisisi data, serta analisis dan pemrosesan data spektroskopi dan SPM. Termasuk fitting spektral, dekonvolusi, dan penyaringan. Modul opsional mencakup analisis univariat dan multivariat (PCA, MCR, HCA, DCA), deteksi partikel, dan fungsi pencarian spektrum.
‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id
