Deskripsi produk

SmartSPM Scanner dan Base

• Rentang Pemindaian Sampel: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

• Tipe Pemindaian berdasarkan Sampel:

  • Non-linearitas XY 0.05%

  • Non-linearitas Z 0.05%

• Noise:

  • 0.1 nm RMS di dimensi XY dalam bandwidth 200 Hz dengan sensor kapasitansi aktif

  • 0.02 nm RMS di dimensi XY dalam bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi non-aktif

  • < 0.04 nm RMS di dimensi Z dengan sensor kapasitansi dalam bandwidth 1000 Hz

• Frekuensi Resonansi:

  • XY: 7 kHz (bebas beban)

  • Z: 15 kHz (bebas beban)

• Gerakan X, Y, Z:

  • Kontrol loop tertutup digital untuk sumbu X, Y, Z

  • Rentang pendekatan motorisasi Z 18 mm

• Ukuran Sampel:

  • Maksimum 40 x 50 mm, ketebalan 15 mm

• Posisi Sampel:

  • Rentang pemindahan sampel motorisasi 5 x 5 mm

  • Resolusi posisi: 1 µm

AFM Head HE002

• Panjang Gelombang Laser: 1300 nm

• Tidak ada pengaruh laser registrasi pada sampel biologis

• Tidak ada pengaruh laser registrasi pada pengukuran fotovoltaik

• Noise Sistem Registrasi: < 0.1 nm

• Motorisasi Penuh:

  • 4 motor stepper untuk penyelarasan otomatis cantilever dan fotodiode

• Akses Bebas ke Probe untuk manipulasi eksternal dan probe tambahan

• Akses Optik Simultan dari Atas dan Samping:

  • Objektif planapochromat

  • Objektif samping hingga 100x, NA=0.7

  • Objektif atas 10x, NA=0.28 secara bersamaan

Mode Pengukuran SPM

• Contact AFM di udara/(opsional cairan)

• Semicontact AFM di udara/(opsional cairan)

• Non-contact AFM

• Phase Imaging

• Lateral Force Microscopy (LFM)

• Force Modulation

• Conductive AFM (opsional)

• Magnetic Force Microscopy (MFM)

• Kelvin Probe (Surface Potential Microscopy, SKM, KPFM)

• Capacitance dan Electric Force Microscopy (EFM)

• Force Curve Measurement

• Piezo Response Force Microscopy (PFM)

• Nanolithography

• Nanomanipulation

• STM (opsional)

• Photocurrent Mapping (opsional)

• Volt-ampere characteristic measurements (opsional)

Mode Pengukuran SPM Secara Simultan dengan Pengukuran Raman

• Contact AFM di udara

• Contact AFM dalam cairan (opsional)

• Semicontact AFM di udara

• Semicontact AFM dalam cairan (opsional)

• Dynamic Force Microscopy (DFM, FM-AFM)

• Dissipation Force Microscopy

• True Non-contact AFM

• Phase Imaging

• Lateral Force Microscopy (LFM)

• Force Modulation

• Conductive AFM (opsional)

• Single-pass Kelvin Probe

• Piezo Response Force Microscopy (PFM)

• STM (opsional)

• Photocurrent Mapping (opsional)

• Shear-force Microscopy with tuning fork (ShFM) (opsional)

• Normal Force Microscopy with tuning fork (opsional)

Mode Spektroskopi

• Confocal Raman, Fluorescence, dan Photoluminescence imaging dan spektroskopi

• Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) dalam mode AFM, STM, dan shear force

• Tip-Enhanced Photoluminescence (TEPL)

• Near-field Optical Scanning Microscopy dan Spectroscopy (NSOM/SNOM)

Unit Conductive AFM (Opsional)

• Rentang Arus: 100 fA ÷ 10 µA

• 3 rentang arus (1nA, 100nA, dan 10µA) dapat dipilih melalui perangkat lunak

Akses Optik

• Kemampuan untuk menggunakan objektif planapochromat atas dan samping secara simultan:

  • Hingga 100x, NA = 0.7 dari atas atau samping

  • Hingga 20x dan 100x secara simultan

• Scanner Objektif Piezo Loop Tertutup untuk penyelarasan laser spektroskopik yang sangat stabil dalam jangka panjang:

  • Rentang: 20 µm x 20 µm x 15 µm

  • Resolusi: 1 nm

‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id