TRIOS Mode Pengukuran
Mode Dasar:
Contact AFM
Semicontact AFM
True Non-contact AFM
Top Mode™
Phase Imaging
Dissipation Force Microscopy
Contact AFM dalam cairan (opsional)
Semicontact AFM dalam cairan (opsional)
Mode Elektrikal:
Single / Double pass Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) AM dan FM
Capacitance Microscopy (SCM)
Single / Double pass Electric Force Microscopy (EFM)
Piezo Response Force Microscopy (PFM)
PFM dengan Tegangan Tinggi (opsional)
PFM-Top mode™
Conductive AFM (opsional)
Conductive AFM dengan Tegangan Tinggi (opsional)
I-Top mode™ (opsional)
I-V Spectroscopy (opsional)
Photocurrent Mapping (opsional)
Volt-ampere characteristic measurements (opsional)
Mode Nanomekanikal:
Lateral Force Microscopy (LFM)
Force Modulation Microscopy (FMM)
Force Curve Measurement (Force Distance (F-D) Spectroscopy dan Mapping)
Nanolithography
Nanomanipulation
Mode Khusus:
Single / Double pass Magnetic Force Microscopy (MFM)
Tunable Magnetic Field (opsional)
Shear-force Microscopy dengan tuning fork (ShFM)
Normal-force Microscopy dengan tuning fork (opsional)
Mode Lainnya:
Scanning Tunneling Microscopy (STM) (opsional)
Scanning Tunneling Spectroscopy (opsional)
TRIOS Akses Optik dan Mikroskop
Akses optik simultan:
Dari bawah dengan objektif oil immersion hingga 1.49 NA
Dari atas dengan objektif hingga 100× 0.7 NA
Dari samping (opsional) dengan objektif hingga 100× 0.7 NA
Closed loop piezo Objective Scanner untuk penyelarasan laser spektroskopik jangka panjang yang ultra-stabil
Rentang: 30 µm × 30 µm × 10 µm
Resolusi: 1 nm
TRIOS Scanner
Rentang pemindaian sampel: 100 µm × 100 µm × 15 µm (+/-10%)
Rentang pemindaian opsional: 200 µm × 200 µm × 20 µm (+/-10%)
Non-linearitas: XY < 0.05%, Z < 0.05%
Noise:
< 0.1 nm RMS di dimensi XY dalam bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi aktif
< 0.02 nm RMS di dimensi XY dalam bandwidth 100 Hz dengan sensor kapasitansi non-aktif
< 0.1 nm RMS di dimensi Z dalam bandwidth 1000 Hz dengan sensor kapasitansi aktif
< 0.03 nm RMS di dimensi Z dalam bandwidth 1000 Hz dengan sensor kapasitansi non-aktif
Gerakan X, Y, Z:
Frekuensi resonansi XY 7 kHz (bebas beban)
Frekuensi resonansi Z 15 kHz (bebas beban)
Kontrol loop tertutup digital untuk sumbu X, Y, Z
TRIOS Base
Ukuran sampel maksimum: 50.8 mm × 50.8 mm, ketebalan 5 mm, dan hingga 100 mm × 100 mm dengan holder khusus
Rentang posisi sampel manual: 25 mm × 25 mm
Rentang posisi sampel motorisasi opsional: 22 mm × 22 mm
Rentang posisi kepala pengukuran SPM motorisasi: 1.6 mm × 1.6 mm
Pendekatan motorisasi: 1.3 mm
TRIOS AFM Head
Panjang gelombang laser: 1300 nm
Tidak ada pengaruh dari laser registrasi pada pengukuran fotovoltaik atau sampel biologis
Menghindari interferensi optik untuk aplikasi Raman
Motorisasi penuh: 4 motor stepper untuk penyelarasan otomatis cantilever dan fotodiode
Akses bebas ke probe untuk manipulasi eksternal dan probe tambahan
TRIOS Opsional
Unit Konduktif (Rentang arus 100 fA – 10 µA / 3 sub-rentang arus (1 nA, 100 nA dan 10 µA) dapat dipilih melalui perangkat lunak)
Cell Cair / Cell Elektrokimia (Kemampuan pertukaran cairan)
Kontrol suhu untuk cell cair (pemanasan hingga 60°C)
Sistem kontrol kelembapan (Rentang kelembapan relatif 10-85% / Stabilisasi kelembapan relatif ±1%)
Modul Pemanas-Pendingin (dari -50°C hingga +100°C)
Modul Pemanas (pemanasan hingga 300°C / Stabilisasi suhu 0.1°C)
Modul Pemanas (pemanasan hingga 150°C / Stabilisasi suhu 0.01°C)
Holder tuning fork kombinasi shear-force dan normal-force
Holder STM
Modul Akses Sinyal
Software
Omega:
Penyelarasan otomatis dari sistem registrasi
Konfigurasi otomatis dengan parameter preset untuk teknik pengukuran standar
Penyesuaian otomatis frekuensi resonansi cantilever
Bahasa makro “Lua” untuk pemrograman fungsi pengguna, skrip, dan widget
Kemampuan untuk memprogram ulang bahasa makro DSP pengontrol secara real-time tanpa memuat ulang perangkat lunak pengontrol
Kalibrasi konstanta pegas (Metode Termal)
IAPro:
Proses gambar dalam ruang koordinat termasuk membuat penampang, fitting, dan mengurangkan polinomial (hingga derajat 12) permukaan
Pemrosesan FFT dengan kemampuan untuk memproses gambar dalam ruang frekuensi termasuk filtrasi dan analisis
Pemrosesan: hingga gambar 5000 piksel × 5000 piksel
Elektronik Pengontrol
Pengontrol modular, sepenuhnya digital, dapat diperluas
DSP kecepatan tinggi 300 MHz
ADC: 20 saluran
ADC kecepatan tinggi 500 kHz 18-bit untuk sensor posisi pemindai
Rentang frekuensi sistem registrasi 5 MHz
2 amplifier lock-in dengan rentang frekuensi 5 MHz
6 generator digital 32-bit dengan rentang frekuensi 5 MHz, resolusi 0.018 Hz
7 motor stepper kontrol
Keluaran digital untuk integrasi dengan peralatan eksternal
Input/keluaran analog untuk integrasi dengan peralatan eksternal
‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id
