Deskripsi produk

Mode Pengukuran TRIOS

Mode Dasar:

• AFM Kontak

• AFM Semikontak

• AFM Non-kontak Sejati (True Non-contact AFM)

• Top Mode™

• Pencitraan Fase (Phase Imaging)

• Mikroskopi Gaya Disipasi

• AFM Kontak dalam cairan (opsional)

• AFM Semikontak dalam cairan (opsional)

Mode Kelistrikan:

• Mikroskopi Gaya Kelvin (KPFM) AM & FM (Single/Double pass)

• Mikroskopi Kapasitansi (SCM)

• Mikroskopi Gaya Listrik (EFM) (Single/Double pass)

• Mikroskopi Respons Piezo (PFM)

• PFM dengan Tegangan Tinggi (opsional)

• PFM-Top Mode™

• AFM Konduktif (opsional)

• AFM Konduktif Tegangan Tinggi (opsional)

• I-Top Mode™ (opsional)

• Spektroskopi I-V (opsional)

• Pemetaan Arus Foto (opsional)

• Pengukuran Karakteristik Volt-Amper (opsional)

Mode Nanomekanik:

• Mikroskopi Gaya Lateral (LFM)

• Mikroskopi Modulasi Gaya (FMM)

• Pengukuran Kurva Gaya / Spektroskopi dan Pemetaan F-D

• Nanolitografi

• Nanomanipulasi

Mode Khusus:

• Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM) (Single/Double pass)

• Medan Magnet yang Dapat Disesuaikan (opsional)

• Mikroskopi Gaya Geser dengan tuning fork (ShFM)

• Mikroskopi Gaya Normal dengan tuning fork (opsional)

Lainnya:

• Mikroskopi Terowongan Pindai (STM) (opsional)

• Spektroskopi Terowongan Pindai (opsional)

‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id