Deskripsi produk

SmartSPM Scanner dan Base

• Rentang Pemindaian Sampel:

  • XY: 100 µm x 100 µm

  • Z: 15 µm (±10 %)

• Jenis Pemindaian Berdasarkan Sampel:

  • Non-linearity XY: 0.05 %

  • Non-linearity Z: 0.05 %

• Noise:

  • XY (Dengan Sensor Kapasitansi Aktif): 0.1 nm RMS pada bandwidth 200 Hz

  • XY (Sensor Kapasitansi Non-Aktif): 0.02 nm RMS pada bandwidth 100 Hz

  • Z (Sensor Kapasitansi): < 0.04 nm RMS pada bandwidth 1000 Hz

• Frekuensi Resonansi:

  • XY: 7 kHz (bebas beban)

  • Z: 15 kHz (bebas beban)

• Gerakan:

  • Kontrol loop tertutup digital untuk X, Y, Z

  • Rentang Pendekatan Z Motorized: 18 mm

• Ukuran Sampel:

  • Maksimum 40 x 50 mm

  • Ketebalan: 15 mm

• Posisi Sampel:

  • Rentang Posisi Motorized Sampel: 5 x 5 mm

  • Resolusi Posisi: 1 µm

AFM Head

• Panjang Gelombang Laser: 1300 nm (tidak mengganggu detektor spektroskopik)

• Penyelarasan: Penyelarasan cantilever dan fotodioda otomatis penuh

• Akses Probe: Akses bebas ke probe untuk manipulator eksternal tambahan

Mode Pengukuran SPM

• AFM Kontak (di udara atau cairan, opsional)

• AFM Semicontact (di udara atau cairan, opsional)

• AFM Non-kontak

• Pencitraan Fase

• Mikroskopi Gaya Lateral (LFM)

• Modulasi Gaya

• AFM Konduktif (opsional)

• Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM)

• Kelvin Probe (Mikroskopi Potensial Permukaan, SKM, KPFM)

• Mikroskopi Gaya Kapasitansi dan Elektrik (EFM)

• Pengukuran Kurva Gaya

• Mikroskopi Respon Piezo (PFM)

• Nanolithografi

• Nanomanipulasi

• STM (opsional)

• Pemetaan Fotolistrik (opsional)

• Pengukuran Karakteristik Volt-ampere (opsional)

Mode Spektroskopi

• Confocal Raman, Fluoresens, dan Fotoluminensensi Pencitraan dan Spektroskopi

• Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) di mode AFM, STM, dan gaya geser

• Tip-Enhanced Photoluminescence (TEPL)

• Near-field Optical Scanning Microscopy dan Spectroscopy (NSOM/SNOM)

Unit AFM Konduktif (Opsional)

• Rentang Arus: 100 fA ÷ 10 µA

• Rentang Arus yang Dapat Diganti: 1 nA, 100 nA, dan 10 µA (dapat dipilih melalui perangkat lunak)

Akses Optik

• Penggunaan Lensa Apochromat Atas dan Samping:

  • Hingga 100x, NA = 0.7 (dari atas atau samping)

  • Penggunaan 20x dan 100x secara simultan

• Closed-loop Piezo Objective Scanner:

  • Rentang: 20 µm x 20 µm x 15 µm

  • Resolusi: 1 nm

Spektrometer

• Jenis: XploRA Plus kompak, spektrometer mikro otomatis

  • Fungsi: Beroperasi sebagai mikroskop mikro-Raman mandiri

• Rentang Panjang Gelombang: 60 cm-1 hingga 4000 cm-1

• Grating:

  • 4 grating pada turret yang dikendalikan oleh komputer

  • Jenis: 600, 1200, 1800, 2400 g/mm

• Otomatisasi: Operasi sepenuhnya motorized dan dikendalikan perangkat lunak

• Deteksi: Berbagai detektor CCD dan EMCCD

Sumber Laser

• Panjang Gelombang Tipikal: 532 nm, 638 nm, 785 nm

• Otomatisasi: Sepenuhnya motorized dan dikendalikan perangkat lunak

Perangkat Lunak

• Paket Perangkat Lunak Terintegrasi:

  • Kontrol penuh SPM, spektrometer, dan akuisisi data

  • Suite Analisis Data: Analisis data spektroskopik dan SPM, pemodelan spektral, dekonvolusi, dan penyaringan

  • Modul Opsional:

    • Suite analisis univariat dan multivariat (PCA, MCR, HCA, DCA)

    • Deteksi partikel

    • Fungsionalitas pencarian spektral

‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id