Deskripsi produk

SmartSPM Scanner dan Basis

• Rentang pemindaian sampel: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

• Jenis pemindaian berdasarkan sampel: Non-linearitas XY 0,05 %; Non-linearitas Z 0,05 %

• Derau (Noise):

  • 0,1 nm RMS pada dimensi XY dengan bandwidth 200 Hz saat sensor kapasitansi aktif

  • 0,02 nm RMS pada dimensi XY dengan bandwidth 100 Hz saat sensor kapasitansi non-aktif

  • < 0,04 nm RMS pada sensor kapasitansi Z dengan bandwidth 1000 Hz

• Frekuensi resonansi:

  • XY: 7 kHz (tanpa beban)

  • Z: 15 kHz (tanpa beban)

• Gerakan X, Y, Z: Kontrol digital loop tertutup untuk sumbu X, Y, dan Z; pendekatan Z bermotor dengan jangkauan 18 mm

• Ukuran sampel: Maksimal 40 x 50 mm, ketebalan 15 mm

• Pemposisian sampel: Jangkauan pemposisian sampel bermotor 5 x 5 mm

• Resolusi pemposisian: 1 µm

Kepala AFM

• Panjang gelombang laser: 1300 nm, tidak mengganggu detektor spektroskopi

• Penyelarasan: Penyelarasan otomatis penuh antara cantilever dan fotodioda

• Akses probe: Akses bebas ke probe untuk penggunaan manipulator eksternal tambahan dan probe lainnya

Mode Pengukuran SPM

• AFM Kontak di udara / (opsional dalam cairan)

• AFM Semikontak di udara / (opsional dalam cairan)

• AFM Non-kontak

• Pencitraan fase

• Mikroskopi Gaya Lateral (LFM)

• Modulasi gaya

• AFM Konduktif (opsional)

• Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM)

• Probe Kelvin (Mikroskopi Potensial Permukaan, SKM, KPFM)

• Mikroskopi Kapasitansi dan Gaya Listrik (EFM)

• Pengukuran kurva gaya

• Mikroskopi Respons Gaya Piezo (PFM)

• Nanolitografi

• Nanomanipulasi

• STM (opsional)

• Pemetaan Arus Foto (opsional)

• Pengukuran karakteristik volt-ampere (opsional)

Mode Spektroskopi

• Pencitraan dan spektroskopi Raman konfokal, fluoresensi, dan fotoluminesensi

• Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) dalam mode AFM, STM, dan gaya geser

• Tip-Enhanced Photoluminescence (TEPL)

• Mikroskopi dan Spektroskopi Optik Jarak Dekat (NSOM/SNOM)

Unit AFM Konduktif (opsional)

• Rentang arus: 100 fA ÷ 10 µA

• Tiga rentang arus yang dapat diubah melalui perangkat lunak: 1 nA, 100 nA, dan 10 µA

Akses Optik

• Kemampuan penggunaan objektif apokromatik atas dan samping secara bersamaan:
  Hingga 100x, NA = 0,7 dari atas atau samping; hingga 20x dan 100x sekaligus

• Pemindai objektif piezo loop tertutup untuk penyelarasan laser spektroskopi jangka panjang yang sangat stabil:
  Jangkauan 20 µm x 20 µm x 15 µm; Resolusi: 1 nm

Spektrometer

• Tipe: Spektrometer mikro XploRA Plus yang sepenuhnya otomatis dan ringkas, juga berfungsi sebagai mikroskop mikro-Raman mandiri

• Rentang panjang gelombang: 60 cm⁻¹ hingga 4000 cm⁻¹

• Grating: 4 grating pada turret yang dikontrol oleh komputer (600, 1200, 1800, dan 2400 g/mm)

• Otomatisasi: Pengoperasian sepenuhnya termotorisasi dan dikontrol melalui perangkat lunak

Deteksi

• Mendukung berbagai detektor CCD dan EMCCD

Sumber Laser

• Panjang gelombang umum: 532 nm, 638 nm, 785 nm

• Otomatisasi: Pengoperasian laser dan pengalihan filter sepenuhnya otomatis melalui perangkat lunak

Perangkat Lunak

• Paket perangkat lunak terintegrasi mencakup:

  • Kontrol penuh untuk SPM, spektrometer, dan akuisisi data

  • Analisis dan pemrosesan data SPM dan spektroskopi

  • Fitting spektral, dekonvolusi, dan penyaringan

  • Modul opsional untuk analisis univariat dan multivariat (PCA, MCR, HCA, DCA)

  • Deteksi partikel dan pencarian spektrum

‘
‘
‘
Hubungi:
PT Bopana Arga Prima Jaya
Jalan Jupiter VI Perum Bintang Metropol
Blok A7 No.16 Bekasi Utara 17122
Jawa Barat, Indonesia
Telp : 021-22163350
Hp : 08119762505 / 081285345374
Email : boney@bapj.co.id / tesa@bapj.co.id